鎢燈絲掃描電鏡

SEM2000

是一款基礎(chǔ)款的多功能分析性鎢燈絲掃描電鏡。20kV分辨率可以做到3.9nm，支持升級(jí)30kV電壓，可觀察亞微級(jí)尺度樣品的微觀結(jié)構(gòu)信息。擁有比臺(tái)式電鏡更大的移動(dòng)范圍，適用于快速篩選待測(cè)樣品，更多的擴(kuò)展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應(yīng)用領(lǐng)域更廣。

產(chǎn)品特點(diǎn)

簡(jiǎn)潔的操作界面

純中文的操作界面

功能設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單易操作。符合國(guó)人使用習(xí)慣，即使是新手用戶，簡(jiǎn)單了解后也能快速上手。

完善的自動(dòng)化功能

自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散，均可一鍵調(diào)節(jié)，提高工作效率。

豐富的測(cè)量工具

長(zhǎng)度、面積、圓度、角度等測(cè)量功能強(qiáng)大的照片管理和預(yù)覽、編輯功能。

豐富的擴(kuò)展性

高靈敏度背散射探測(cè)器

· 多通道成像

探測(cè)器設(shè)計(jì)精巧，靈敏度高，采用4分割設(shè)計(jì)，無(wú)需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

· 二次電子成像和背散射電子成像對(duì)比 

背散射電子成像模式下，荷電效應(yīng)明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

能譜

金屬夾雜物能譜面掃分析結(jié)果。

電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大，高分辨EBSD的測(cè)試需求，能夠?qū)饘佟⑻沾伞⒌V物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。

該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖，能夠識(shí)別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對(duì)材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷。

應(yīng)用案例

產(chǎn)品參數(shù)